资料简介：
单片机课程设计 集成运放参数测试仪，共20页，3830字
目 录
一． 方案比较与论证-----------------------------------------------3
二． 理论与分析计算-----------------------------------------------4
三． 电路图及设计文件--------------------------------------------6
1． 硬件实现-----------------------------------------------------6
2． 软件实现-----------------------------------------------------8
四． 测试数据与结果分析-----------------------------------------9
五． 参考文献--------------------------------------------------------9
六． 附录-------------------------------------------------------------10
附录A测试仪器---------------------------------------------10
附录B 参考文献--------------------------------------------10
附录C 软件程序--------------------------------------------10
摘要: 此集成运放测试仪采用“辅助放大器”的测量方法，能测试VIO(输入失调电压)、IIO(输入失调电流)、AVD (交流差模开环电压增益)和KCMR (交流共模抑制比)四项基本参数，符合了题目的要求。可对各种通用型集成运放主要参数进行测量，具有较好的精度，稳定度和测量范围。本设计由四个模块电路组成：集成运放参数测试电路、信号源发生电路、单片机控制电路、显示与键盘电路。
关键词：集成运放 参数测试 信号源 显示 单片机
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- 课程设计-集成运放参数测试仪
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